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互换性与测量技术基础

作者： 高丽，于涛，杨俊茹主编

出版日期： 2012-01-01

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简介

本书分为绪论，测量技术基础，尺寸的公差、配合与检测，几何公差与检测，表面粗糙度与检测，圆锥和角度公差与检测，尺寸链基础，光滑极限量规设计，常用结合件的公差与检测，渐开线圆柱齿轮传动公差与检测等共11章。

更多出版物信息
  • 出版： 2012-01-01
  • 作者：高丽，于涛，杨俊茹主编
  • 更新： 2024-07-16
  • 书号：9787118078817
  • 中图：TG801
  • 学科：
    工学
    材料科学与工程

作者信息

高丽，于涛，杨俊茹主编

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