简介
在数字集成电路领域中，随着VLSI集成度和时钟频率的不断提高，使得低层次综合效率越来越低，测试越来越困难，电路功耗问题也越来越突出。研究表明，高层次综合与设计技术能最大限度地解决上述难题，优化设计目标。本书运用高层次综合与设计技术，对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究，介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法，推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。
更多出版物信息
- 版权： 清华大学出版社
- 出版： 2016-12-01
- 更新： 2023-10-13
- 书号：9787302455608
- 中图：TN431.2
- 学科：工学电子科学与技术工学信息与通信工程交叉学科集成电路科学与工程
