本译作以CIGRE/CIRED/UIE联合工作组JWG C4.110于2010年发布的研究报告为主要依据，结合国内外对电压暂降对敏感设备和过程的影响和研究需要而译，目的在于呈现国外最新研究成果，并将该领域已被熟知的电压耐受能力与物理参数免疫力结合起来，帮助设备制造商、终端设备用户，更好地认识和理解设备抗电压暂降的能力和对设备抗电压暂降的免疫力的要求。解设备抗电压暂降的能力和对设备抗电压暂降的免疫力的要求。电压暂降问题已被认为是当前最重要的电能质量问题，其主要原因是，给使用敏感设备、敏感过程的用户造成的损失越来越大。为此，研究敏感设备与装置抵御电压暂降的免疫力，成为了理解和认识电压暂降造成影响，采取合理措施的基础。