太赫兹光电测试技术

作者: 曹俊诚

出版社: 华东理工大学出版社

出版日期: 2020-11-20

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简介

本书从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发,结合作者在太赫兹频段器件测试、系统应用及相关领域测试的经验,系统地介绍了太赫兹频段光电测试技术中所涉及的基本理论和概念、测试原理与方法、仪器组成和主要技术特点。同时,对实际测试过程中的细节和出现的问题进行讨论和分享。本书除绪论外共6章,分别介绍了太赫兹频段光电测试过程中涉及的辐射源、探测器及探测技术、真空技术、低温技术,太赫兹激光技术、光谱技术以及光电测试技术的应用等。绪论介绍了太赫兹频段光电测试技术的发展历史、概况、特点,以及在光电测试技术中的数据处理方法。

更多出版物信息
  • 版权: 华东理工大学出版社
  • 出版: 2020-11-20
  • 作者:曹俊诚
  • 更新: 2023-03-22
  • 书号:9787562861027
  • 中图:O441.4;TN206
  • 学科:
    理学
    物理学
    工学
    电子科学与技术
    工学
    光学工程
    工学
    信息与通信工程