简介
本书从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发,结合作者在太赫兹频段器件测试、系统应用及相关领域测试的经验,系统地介绍了太赫兹频段光电测试技术中所涉及的基本理论和概念、测试原理与方法、仪器组成和主要技术特点。同时,对实际测试过程中的细节和出现的问题进行讨论和分享。本书除绪论外共6章,分别介绍了太赫兹频段光电测试过程中涉及的辐射源、探测器及探测技术、真空技术、低温技术,太赫兹激光技术、光谱技术以及光电测试技术的应用等。绪论介绍了太赫兹频段光电测试技术的发展历史、概况、特点,以及在光电测试技术中的数据处理方法。
更多出版物信息
- 版权: 华东理工大学出版社
- 出版: 2020-11-20
- 更新: 2023-03-22
- 书号:9787562861027
- 中图:O441.4;TN206
- 学科:理学物理学工学电子科学与技术工学光学工程工学信息与通信工程