一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析

作者: 张晶威

出版社: 清华大学出版社

出版日期: 2022-02-01

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图书简介

《一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析》是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍,通过对电子工程设计中的实际故障案例分析,帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案,内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。 《一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析》适合作为从事计算机、通信设备、高端仪器制造等行业的电路设计、开发专业工程师、研究人员的技术参考书,也可以作为电子科学技术、电子工程专业高年级本科生和研究生的参考用书。

更多图书信息
  • 版权: 清华大学出版社
  • 出版: 2022-02-01
  • 作者:张晶威
  • 更新: 2022-03-18
  • 书号:9787302589235