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简介
《一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析》是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍,通过对电子工程设计中的实际故障案例分析,帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案,内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。 《一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析》适合作为从事计算机、通信设备、高端仪器制造等行业的电路设计、开发专业工程师、研究人员的技术参考书,也可以作为电子科学技术、电子工程专业高年级本科生和研究生的参考用书。
更多出版物信息
- 版权: 清华大学出版社
- 出版: 2022-02-01
- 更新: 2023-06-07
- 书号:9787302589235
- 中图:TN410.2
- 学科:工学电子科学与技术工学信息与通信工程交叉学科集成电路科学与工程
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