本书全面介绍了数字电路测试的基础理论。第1章为数字电路测试技术导论，第2～9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SOC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。针对每一种数字电路测试技术，本书一方面用示例讲述其技术原理，另一方面用电子设计自动化(EDA)的商业工具对具体实例演示技术应用过程（EDA工具应用脚本及其说明将作为本书附录在网站上提供下载），并在章后附有习题。通过本书，读者一方面可以学习到基本的测试理论和相关技术；另一方面，还可以对当今芯片设计流程和EDA工具链中测试技术的运用和实践有所了解。本书适合作为高等院校集成电路、计算机科学技术、电子科学与技术等相关专业高年级本科生、研究生的教材，同时可供从事集成电路设计与测试行业的开发人员、广大科技工作者和研究人员参考。