本文选择四种有代表性的、具有不同导电机制的半导体材料进行高压下导电行为研究，以了解压力对不同导电机制的影响。如对电子导电材料VO2的电输运性质进行测量，给出了电阻率、激活能、载流子浓度、迁移率和霍尔系数等随压力的变化规律，并系统的讨论了造成这些变化的物理机制；同时，利用高压原位交流测量技术，对BaH2（H-离子导电）、KH2PO4（质子导电）和MWCNT/PVDF复合材料（电子、离子混合导电）进行交流阻抗谱测量，给出了压力对载流子在晶粒和界面处传输的调控作用，以及相变对晶粒和界面介电性质的影响。