高压下半导体不同导电机制的研究
出版社: 哈尔滨工程大学出版社
出版日期: 2022-01-01
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简介
本文选择四种有代表性的、具有不同导电机制的半导体材料进行高压下导电行为研究,以了解压力对不同导电机制的影响。如对电子导电材料VO2的电输运性质进行测量,给出了电阻率、激活能、载流子浓度、迁移率和霍尔系数等随压力的变化规律,并系统的讨论了造成这些变化的物理机制;同时,利用高压原位交流测量技术,对BaH2(H-离子导电)、KH2PO4(质子导电)和MWCNT/PVDF复合材料(电子、离子混合导电)进行交流阻抗谱测量,给出了压力对载流子在晶粒和界面处传输的调控作用,以及相变对晶粒和界面介电性质的影响。
更多出版物信息
- 版权: 哈尔滨工程大学出版社
- 出版: 2022-01-01
- 更新: 2024-09-27
- 书号:9787566128706
- 中图:TN304
- 学科:工学电子科学与技术工学信息与通信工程