高速数字接口原理与测试指南

作者: 李凯

出版社: 清华大学出版社

出版日期: 2014-11-01

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简介

本书结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验,对高速数字信号的基本概念、测试原理进行讲解,同时结合现代计算机、移动设备、有线通信、航天设备里最新的高速数字接口,对其关键技术、测试方法等做详细介绍和总结,以便于读者理解和掌握高速数字接口的基本原理、实现技术、测试理念以及其发展趋势。本书主要分为两个部分:上半部分是高速数字信号的基本概念和测量原理;下半部分是常用高速数字接口总线的技术特点和测试方法。本书可供从事计算机、移动终端、有线通信、航空航天设备开发的工程人员了解学习高速数字总线的相关技术,也可供高校工科电子类的师生做数字电路、信号完整性方面的教学参考。

编辑推荐

深入浅出,阐述高速数字原理 追本溯源,探究测试方法精髓 图文并茂,剖析前沿测量方案 娓娓道来,洞察现代电子趋势 本书结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验,对高速数字信号的基本概念、测试理念、测试方法及发展趋势进行更深入的解读和浅显易懂的阐释。本书可用于指导相关设计、开发、测试人员的工作,也可供广大电子行业的技术爱好者做为科普读物了解当今电子系统的发展趋势。 本书的特点是深入浅出并结合实际应用。书中没有复杂的公式和数学推导,所有重要的概念都是结合实验和实测数据进行生动的讲解,即使只掌握基本数字电路基础知识的本科生读起来也不会觉得费劲。本书的内容大多是现代高速数字电路的关键的技术,了解了这些技术的来龙去脉后,再深入学习或阅读专业技术文章就会更加得心应手。由于作者多年的实际应用经验积累及悉心整理,书中还提供了大量精美图片,包括实际波形、测量数据、常用仪表、技术方案等,这些都和电子工程人员的日常实际工作息息相关,可以帮助读者直观了解到当今的技术发展水平及业界领先的测试方法。

更多出版物信息
  • 版权: 清华大学出版社
  • 出版: 2014-11-01
  • 作者:李凯
  • 更新: 2023-10-13
  • 书号:9787302376118
  • 中图:TN919.5-62
  • 学科:
    工学
    电子科学与技术
    工学
    信息与通信工程

作者信息

李凯

李凯,毕业于北京理工大学光电工程系,硕士学位,曾在国内知名通信公司从事多年硬件研究。2006年加入安捷伦公司,负责高端示波器、逻辑分析仪、信号完整性分析等高速数字测试产品的应用和研究。对于通信、计算机等行业有深入认知,对信号完整性、嵌入式系统、高速总线、可编程逻辑、时钟、电源等电路的设计和测试有深刻理解。作为高速数字测试领域的专家,李凯利用业余时间撰写了大量关于高速信号测量原理、测量方法的文章并发布在《国外电子测量技术》、《电子工程专辑》等专业杂志以及IEEE ICCP、EDI CON等专业论坛大会上,同时在EDN China网站开设有个人技术博客。

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