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简介
本书作者长期工作在研发一线,结合自己多年设计经验编写本书,从硬件电路和产品设计 等方面系统地论述了产品可靠性。全书共分为6章:第1章是器件选型可靠性设计,详细讲述 了器件选型原则、器件失效分析、元器件筛选方法、供应商管理方法;第2章从电路简化设计、接口防护、电路耐环境设计等方面阐述了硬件可靠性设计;第3章梳理了产品的硬件测试,分别讲述了信号质量测试、信号时序测试、硬件功能测试和硬件性能测试;第4章叙述了 PCB可靠性设计,详细讲解了PCB器件布局和PCB走线设计;第5章从研发过程可靠性评审来解读产品可靠性设计,重点讲解了产品研发各阶段的评审内容;第6章以一款手持智能终端的设计为具体案例,完整地讲述了产品的研发过程和产品可靠性设计要点。 本书适合硬件设计人员、PCB设计工程师、产品经理、高校电子专业学生阅读,也可作为产品可靠性设计、电路设计等方面的培训教材。
编辑推荐
本书采取问题简单化、功能具体化的编写逻辑,重点讲解硬件设计工程师在实际过程中如何进行产品的硬件设计和整机可靠性设计,理论结合实践经验,把硬件可靠性分解到每个模块
更多出版物信息
- 版权: 清华大学出版社
- 出版: 2022-09-12
- 更新: 2023-06-19
- 书号:9787302613725
- 中图:TN702.2
- 学科:工学电子科学与技术工学信息与通信工程