主要介绍晶体学基础、X射线衍射分析、透射电子显微分析、材料表面分析、热分析及光谱分析等。晶体学基础包括晶体的宏观、微观对称性、点群与空间群、晶体的投影、倒易点阵等。X射线衍射分析包括X射线的物理学基础、衍射原理及物相鉴定、宏观和微观应力测定、织构分析等应用。透射电子显微分析包括电子衍射、电子光学、电镜结构、原理及其显微结构分析、图像衬度分析和高分辨技术等。表面分析包括扫描电镜、电子探针、原子探针、俄歇能谱和X射线光电子能谱等结构原理和应用。热分析包括热重分析、差热分析、差示扫描量热分析等。光谱分析包含电子光